Strokovna ekskurzija študentov FKKT UM v Inštitut Jožef Stefan

Fakulteta za kemijo in kemijsko tehnologijo UM v sodelovanju s Kariernim centrom UM organizira za študente strokovno ekskurzijo v Inštitut Jožef Stefan - Odsek F4 Odsek za tehnologijo površin in optoelektroniko.

Program ekskurzije:

8.00 - odhod izpred galvnega vhoda Tehniških fakultet (Smetanova 17, 2000 Maribor)

V okviru strokovne ekskurzije bodo študenti poslali:

• rentgensko fotoelektronsko spektroskopijo – najpogostejša tehnika za analizo površin s katero pridobimo informacijo o elementni sestavi in okolju elementov v prvih 5 nm trdne spojine,
• Augerjevo elektronsko spektroskopijo sklopljeno z vrstično elektronsko spektroskopijo – opazovanje morfologije vzorca in izvajanje AES analiz,
• masno spektrometrijo sekundarnih ionov – gre za tehniko masne spektrometrije na površini trdnih spojin, pri čemer jedkamo površino z visokoenergijskimi ioni in merimo nastanek sekundarnih ionov (tako kationov kot anionov),
• mikroskopijo na atomsko silo – z zelo majhno konico v kontaktnem ali nekontaktnem načinu drsimo po površini in merimo topografijo vzorca,
• nastanek in uporabo plazme
• predstavitev delodajalca Inštitut Jožef Stefan in možnosti zaposlitve

Več informacij in prijave pri Katji Zečević: .(JavaScript mora biti omogočen, če si želite ogledati ta naslov)

Karierni center UM krije zgolj stroške avtobusnega prevoza.